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ひずみゲージ
ひずみゲージ are devices は、オブジェクトのひずみを測定するために使用されます。 1938 年に Edward E. Simmons と Arthur C. Ruge によって発明された、最も一般的なタイプのひずみゲージは、金属箔パターンを支持する絶縁性の柔軟なバッキングで構成されています。ひずみゲージは、シアノアクリレートなどの適切な接着剤で対象物に取り付けられます。物体が変形すると箔が変形し、電気抵抗が変化します。通常、ホイートストン ブリッジを使用して測定されるこの抵抗変化は、ゲージ率として知られる量によってひずみに関連しています。
ひずみゲージは 電気コンダクタンスを利用し、その材料の特性であるコンダクタの電気伝導率だけでなく、コンダクタの形状にも依存します。導電体がその弾性の限界内で引き伸ばされ、破損したり永久に変形したりしないようにすると、導電体はより細く長くなり、電気抵抗を端から端まで増加させる変化が起こります。逆に、導体が座屈しないように圧縮されると、導体は広がったり短くなったりして、端から端までの電気抵抗が減少します。ひずみゲージの測定された電気抵抗から、加えられた応力の量を推測することができます。典型的なひずみゲージは、平行線の向きの方向の少量の応力が導体の有効長にわたって乗数的に大きなひずみをもたらすように、平行線のジグザグ パターンに長くて薄い導電性ストリップを配置します。 —したがって、単一の直線 で観察されるよりも、抵抗の乗数的に大きな変化導線。ひずみゲージは局所的な変形のみを測定し、試験片が受ける応力の「有限要素」のような分析を可能にするのに十分なほど小さく製造できます。これは効果的に 材料の疲労研究に使用できます。
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